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大面积微区X射线荧光光谱仪


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M6是布鲁克的大面积光谱仪,用于对大物体进行无损原位分析。以最先进的技术为特征,它允许在短时间内扫描大样本。一个强大的分析软件包为用户提供了一系列工具,以获得最大的每一个点成分测量数值。

BRUKER M6 JETFISH是为大样本的无损元素分析而设计的。仪器的移动性使它可以放置在感兴趣的物体的场地,无论是在美术馆,博物馆。允许扫描面积为800mm×600mm,光斑尺寸最小100um,速度可达100mm/s。由于系统能够“实时”测量,因此像素驻留时间短至1ms。对历史绘画的非破坏性分析能力。允许样品水平或垂直扫描。 M6的光斑尺寸可以在100um-500um之间进行调整,以匹配样品的结构和所需的空间分辨率。 Bruker的先进XFlash®硅漂移探测器(SDD)检测器,具有高计数率能力和在宽计数率范围内的最佳能量分辨率。 特殊安全电路提供最佳的防止X射线照射的用户保护。超声波测距防止与测量对象碰撞的防护措施,避免文物和艺术品毁损。

国内外博物馆和美术馆都采用此设备,例如:北京故宫博物院,台北故宫博物院,香港文物修复署,美国大都会博物馆,英国大英博物馆等。